泰仕電子 TES-96 膜厚計 磁性/非磁性兩用 膜厚量測

規格

測量方法:電磁式及渦電流式(自動底材判別功能)

測量範圍:0~1500 μm 或 0~75.0 mils

準確性

±2 μm: < 50 μm

±2.5%: 50 μm ~ < 1000 μm

±3%: 1000 μm < 1500 μm

解析度:0.1 μm: < 100 μm / 1 μm: ≧100 μm

單筆資料記憶:99 點

群組資料記憶:10 群組各 100 點

電源:1.5 V 鹼性電池 (尺寸 AAA) x 2

電池壽命:約 30 小時 (背光未啟用下)

操作溫度:0°C 至 40°C (32°F 至 104°F)

儲存溫度:-20°C 至 50°C (-4°F 至 122°F)

尺寸:及重量 114 (L) x 53 (W) x 31 (H) mm / 約 102 g

附件: 零點校正板 (鐵質及鋁質)、校正片 (約 μm)、鹼性電池、攜帶盒、使用說明書

特性:

自動判別磁性金屬/非磁性金屬底材之測量

測量磁性金屬上之非磁性披膜之厚度及非磁性金屬上之絕緣膜厚度

膜厚度超出上下限之響聲及顯示警示功能

統計計算顯示平均值、最大值、最小值及標準差功能

測量厚度單位 μm/mils 選擇

LCD顯示含背光

自動關機功能

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