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雙眼解剖顯微鏡(Nikon 445) (編號:B1-190-1)

日本Nikon microscope SMZ 445
學生解剖顯微鏡
連續倍率:8-35X
*副廠底座

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1.顯微鏡本體:
(1)光學系統:Greenough式zooming光學系統。
(2)放大倍數:8倍~35倍,無段式連續倍率調整。
(3)目鏡筒:雙眼式傾斜45度,水平推拉式眼距調整54~75mm,左、右眼獨立視焦調整環調整視差。
(4)目鏡:10X目鏡1對,視野數F.N 21。
(5)工作距離:100mm。
(6)物鏡:物鏡套筒口徑52mm,物鏡變倍每刻度0.1倍有標示,方便確認觀察倍率。
(7)鏡組本體內建防霉片,內部模組防霉處理。
(8)機構具ESD靜電防護設計,避免干擾毀損樣本。
2.基座及光源:(副廠基座)
(1)平台尺寸:W24cm/D28cm/H30cm(立柱高)
   行程:Z軸行程105mm(調焦架有二段高度可固定)。
(2)光源說明:
a.落射型LED上光源,高亮度LED白光燈源,具有亮度無段連續可調整旋鈕。
b.底部透射型LED下光源,高亮度LED白光燈源,具有亮度無段連續可調整旋鈕。
(3)調焦架直徑:76mm。
(4)變倍說明:變倍調節輪具有旋鈕式卡榫鬆緊度調整功能。
(5)電源:110V~220V
3.顯微鏡本體及目鏡均須為同一廠牌出品,非採拼裝搭接或仿製品,以確保光學系統成像品質,顯微鏡本體及目鏡均需具有廠牌標示,以利辨識。
※交機時檢附原廠合法授權國內代理商出具之產品出廠證明書及產品連帶保固書(公司貨),以確保產品品質及保修權益。

*請注意:基座及光源若需原廠製品,歡迎參考編號B1-190或來電洽詢